IEC61000-4-2 Ed2.0 : 2008/ISO10605 Ed2.0 : 2008 규격 대응
최대 시험 전압 ± 30kV로 여유있는 시험이 가능
조작성을 중시 한 패널 디자인
프로그램 기능 탑재 (KES4022A)
각종 정전기 시험 규격에 대응
라인업
| IEC61000-4-2 Ed2.0 : 2008 규격 대응 판 | |
| KES4021A | 수동 테스트 용 |
| KES4022A | 자동 시험 지원 |
| IEC61000-4-2 Ed2.0 : 2008/ISO10605 Ed2.0 : 2008 규격 대응 판 | |
| KES4021A FOR ISO.STD.ED2 | 수동 테스트 용 |
| KES4022A FOR ISO.STD.ED2 | 자동 시험 지원 |
개요
정전기 방전은 가까이에 발생하는 현상입니다. 건조한 때 융단 위를 걸어 문 손잡이에 닿았을 때, 혹은 자동차의 승강시 정전기 방전에 의해 충격을받습니다. 이 정전기 방전에 의해 발생하는 아크 전류 나 전자파가 전자 회로에 들어가면 전자 기기가 오작동하거나 회로가 파괴하거나하는 엄청난 악영향을 미칩니다. 반도체를 사용한 전기 · 전자 기기가 보급하고있는 현상은 큰 문제입니다. 따라서 정전기 방전 내성에 관한 규격이 제정되어 있습니다. 본 기기는 규격에 따라 대전 한 인체에서 전기 · 전자 기기에 직접 방전, 혹은 간접 방전을 시뮬레이션 내성 시험에 사용합니다.
특징
EN/IEC61000-4-2 규격 대응 정전기 방전 시뮬레이터
최대 시험 전압 ± 30kV로 여유가있는 시험이 가능
ISO10605 Ed2.0 : 2008 규격에도 대응 ※
※ ISO10605 Ed2.0 : 2008 표준은 에너지 저장 커패시터 (150pF/330pF) 방전 저항 (330Ω/2kΩ)의 조합이 규정되어 있습니다. IEC61000-4-2 Ed2.0 : 2008/ISO10605 Ed2.0 : 2008 규격 대응 버전은 표준 첨부 품 CR 유닛 (CR31-KES) 방전 칩 (AT31-KES, CT31-KES) 이외에 옵션 CR 유닛 (CR32-KES, CR33-KES, CR34-KES)과 방전 칩 (AT32-KES, CT32-KES, ST31-KES, ST32-KES)가 포함되어 있습니다.
※ ISO10605 Ed2.0 : 2008 규격 옵션을 나중에 구입의 경우, 소지의 본체와 조합 교정 비용 등이 별도로 발생합니다.
KES4022A의 고유 한 기능
본체 및 응용 프로그램 소프트웨어에 의한 시험 조건 설정 프로그램 기능
목적에 따라 선택할 수있는 4 개의 시험 모드
- 수동 테스트 (단독 시험)
동일한 시험 조건 (1 단계)에서 시험을합니다.
IEC61000-4-2의 시험 수준도 선택할 수 있습니다. - IEC 어려움 레벨 시험
IEC 어려움 수준과 극성을 설정하는 자동 시험입니다.
선택한 IEC61000-4-2의 시험 레벨까지 낮은 수준에서 순차적으로 시험을합니다. - 단계 시험
단계 전압과 극성을 설정하는 자동 시험입니다.
시작 전압, 종료 전압 단계 전압을 설정하여 순차적으로 시험합니다. - 시퀀스 시험
모든 시험 조건 설정 자동 시험입니다.
시험 조건을 몇 가지 설정하여 1 단계부터 차례로 시험합니다.
어플리케이션 소프트웨어
KES4022A는 부속품으로 전용 어플리케이션 소프트를 준비하고 있습니다. 시험 조건을 본체 패널뿐만 아니라 컴퓨터에서 설정 할 수 있습니다. 엑셀 매크로 프로그램으로 동작하고 주어진 파라미터에 입력하여 쉽게 설정할 수 있습니다. (주) 시험을 수행하거나 중단은 PC에서 원격 제어 할 수 없습니다. KES4021A에서는 사용할 수 없습니다.
[이용 약관]
● 인터페이스 : RS232C
● 대응 OS : Windows XP Professional (SP2부터 32 비트 버전)
● 대응 소프트 : 엑셀 2003 VBA
사양
[본체 사양]
| 항목 | KES4022A | KES4021A |
| 방전 방식 | 접촉 방전 및 공기 중 방전 | |
| 설정 전압 | 0.00kV ~ 30.5kV (사양 보증 범위 : 0.50kV ~ 30.0kV) | |
| 극성 | 양수 또는 음수 | |
| 출력 극성 설정 | PoS : 정극에만 실시 | - |
| nEG : 음극에만 실시 | ||
| Pn : 정극에서 시작하여 1 시험마다 극성을 바꾸어 실시 | ||
| nP : 음극에서 시작하여 1 시험마다 극성을 바꾸어 실시 | ||
| PA-nA : 양극의 시험이 종료되면 음극의 시험을 실시 | ||
| nA-PA : 음극의 시험이 종료되면 양극의 시험을 실시 | ||
| 충전 저항 | 50MΩ (방전 암과 함께 50MΩ) | |
| 방전 간격 | 0.05s ~ / 0.1s ~ 99.9s | |
| 방전 횟수 | 1 ~ 99999 번 무한 | 1 ~ 999 회, 무한 |
| 트리거 | 간토리가 또는 TEST 키 (본체 패널) | |
| 시험의 종류 | 수동 테스트 | - |
| IEC 어려움 시험 : 레벨 1,2,3,4 ※ | ||
| 단계 시험 : 스텝 단위 전압 0.01 ~ 30.0kV | ||
| 시퀀스 시험 : 20 단계까지 설정 가능 | ||
| 방전 포인트 설정 | 각 시험 조건에 최대 10 개의 방전 포인트가 설정 가능 | |